Атомный силовой микроскоп был изобретен сотрудниками швейцарского филиала фирмы ИБМ в 1986 году (см. "Наука и жизнь" № 9, 1989 г.). Принцип его действия состоит в том, что на очень малой высоте над поверхностью исследуемого объекта скользит укрепленная на гибком рычаге алмазная или кремниевая иголочка. Атомы поверхности ее притягивают или отталкивают. Притяжение между атомами поверхности и острия иголочки ощущается на расстоянии всего около ангстрема, а отталкивание - на большем удалении. Рычаг с иголочкой соответственно чуть-чуть отклоняется то вверх, то вниз, следуя малейшим неровностям, и эти микроскопические отклонения регистрируются электроникой. По данным измерений на экране микроскопа строится картина поверхности, на которой можно разглядеть, например, дефекты в кристаллической решетке твердых тел, конфигурацию биологических молекул.
В последние годы атомный силовой микроскоп, появившийся как экзотический капризный прибор для физических исследований, шагнул на производство. С его помощью проверяют чистоту поверхности кремниевых заготовок для микросхем и гладкость жестких дисков для компьютера, а также магнитных головок.
На снимке - поверхность сополимера из полистирола с полибутадиеном. Видно, что полибутадиен (светлые участки) распределен неравномерно, скопления его молекул образуют нечто вроде высыхающих хлопьев мыльной пены.
